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高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀可以直接測(cè)量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時(shí)間變化的曲線,該系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用,是目前國(guó)內(nèi)外絕緣材料高溫電阻率測(cè)量*系統(tǒng),廣發(fā)應(yīng)用于高??蒲性核推髽I(yè)單位材料的高溫絕緣性能研究。
ATI-1000S型半導(dǎo)體體積電阻率測(cè)試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試,該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率,可以分析被測(cè)樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線。
TI-1000C型高溫導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀主要用于導(dǎo)電材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試,該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率
高阻計(jì)*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1410-2006、ASTM D257-99、GB/T 2439-2001、GB/T 10581-2006、GB/T 1692-2008、GB/T 10064-2006、GB/T 12703.4-2010、ASTM D257等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測(cè)量電極(夾具)可以測(cè)量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。本儀器除能測(cè)電阻外,還
橡塑材料體積電阻率測(cè)試儀體積電阻和表面電阻的試驗(yàn)都受到下列因素影響:施加電壓的大小和時(shí)間;電極的性質(zhì)和尺寸;在 試樣處理和測(cè)試過(guò)程中周?chē)髿鈼l件和試樣的溫度、溫度。
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